半導體

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DAGE4300晶圆推拉力测试機

編號OB_20251224145506959FY0

已售出

DAGE4300晶圆推拉力测试機

DAGE4300晶圆推拉力测试機

編號OB_20251224145506959FY0
型號DAGE4300
製造商 诺信达格/Nordson Dage
出廠年份2018
面議

設備說明

Nordson DAGE 4300 測試儀專為滿足半導體晶圓廠和外包商對300毫米晶圓處理和凸點剪切測試日益增長的需求而設計,與4000W半自動晶圓處理系統相輔相成。它透過避免昂貴晶圓的人工搬運、提高凸點測試吞吐量,並提供晶圓表面的全面測試而無需重新定位,從而提高了生產力。關鍵特性包括操縱桿控制測試頭、半自動測試程序以及多種安全互鎖功能。